SEM-EDS refers to Scanning Electron Microscopy - Energy Dispersive X-ray Spectroscopy. This is a scientific technique used for the characterization of materials, particularly their surface features, morphology, and elemental composition. SEM uses a scanning electron microscope to produce high-resolution images of the sample surface, whereas the EDS detector measures the X-rays emitted from the sample's surface to identify and quantify the elemental composition. The SEM-EDS technique has a broad range of applications across various fields, including materials science, geology, biology, and forensic science. It allows scientists to examine the structure and composition of samples at a microscopic level, making it an essential tool for research and analysis.
Ne Demek sitesindeki bilgiler kullanıcılar vasıtasıyla veya otomatik oluşturulmuştur. Buradaki bilgilerin doğru olduğu garanti edilmez. Düzeltilmesi gereken bilgi olduğunu düşünüyorsanız bizimle iletişime geçiniz. Her türlü görüş, destek ve önerileriniz için iletisim@nedemek.page